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        Journal Of Microelectromechanical Systems

        微機(jī)電系統(tǒng)雜志
        國際簡稱:J MICROELECTROMECH S

        Journal Of Microelectromechanical Systems

        SCIE

        按雜志級別劃分: 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)

        • 3區(qū) 中科院分區(qū)
        • Q2 JCR分區(qū)
        • 78 年發(fā)文量
        • 100.00% 研究類文章占比
        • 20.45% Gold OA文章占比
        ISSN:1057-7157
        創(chuàng)刊時(shí)間:1992
        是否預(yù)警:否
        E-ISSN:1941-0158
        出版地區(qū):UNITED STATES
        是否OA:未開放
        出版語言:English
        出版周期:Bimonthly
        影響因子:2.5
        出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
        審稿周期: 約3.0個(gè)月
        CiteScore:6.2
        H-index:131
        出版國人文章占比:0.15
        開源占比:0.2209
        文章自引率:0.0740...

        Journal Of Microelectromechanical Systems雜志簡介

        Journal Of Microelectromechanical Systems是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的工程技術(shù)領(lǐng)域的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊,自1992年創(chuàng)刊以來,一直以高質(zhì)量的內(nèi)容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(hào)(ISSN:1057-7157,E-ISSN:1941-0158),出版周期Bimonthly,其出版地區(qū)設(shè)在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動(dòng)工程技術(shù)專業(yè)及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學(xué)科界的教育研究與實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的交流,發(fā)表同行有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文,提倡學(xué)術(shù)爭鳴,激發(fā)學(xué)術(shù)創(chuàng)新,開展國際間學(xué)術(shù)交流,為工程技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展注入活力。

        該期刊文章自引率0.0740...,開源內(nèi)容占比0.2209,出版撤稿占比0,OA被引用占比0,讀者群體主要包括工程技術(shù)的專業(yè)人員,研究生、本科生以及工程技術(shù)領(lǐng)域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學(xué)術(shù)背景和興趣。Journal Of Microelectromechanical Systems已被國際權(quán)威學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內(nèi)的學(xué)者和研究人員檢索和引用,有助于推動(dòng)ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域的研究進(jìn)展和創(chuàng)新發(fā)展。

        CiteScore(2024年最新版)

        • CiteScore:6.2
        • SJR:0.744
        • SNIP:1.187
        學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
        大類:Engineering 小類:Mechanical Engineering Q1 140 / 672

        79%

        大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 199 / 797

        75%

        CiteScore: 這一創(chuàng)新指標(biāo)力求提供更為全面且精確的期刊評估,打破了過去僅依賴單一指標(biāo)如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數(shù)據(jù),跨越多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標(biāo)的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標(biāo)準(zhǔn)化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計(jì)數(shù)以及引用百分比。Scopus整合以上指標(biāo),幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個(gè)指標(biāo)的詳細(xì)信息。

        CiteScore分區(qū)值與影響因子值數(shù)據(jù)對比

        Journal Of Microelectromechanical Systems中科院分區(qū)表

        中科院分區(qū) 2023年12月升級版
        大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
        工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)
        中科院分區(qū) 2022年12月升級版
        大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
        工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)
        中科院分區(qū) 2021年12月舊的升級版
        大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
        工程技術(shù) 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)
        中科院分區(qū) 2021年12月基礎(chǔ)版
        大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
        工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 4區(qū) 3區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
        中科院分區(qū) 2021年12月升級版
        大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
        工程技術(shù) 3區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)
        中科院分區(qū) 2020年12月舊的升級版
        大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
        工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)
        中科院分區(qū)表歷年分布趨勢圖

        WOS期刊JCR分區(qū)(2023-2024年最新版)

        按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
        學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 165 / 352

        53.3%

        學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 28 / 76

        63.8%

        學(xué)科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 99 / 140

        29.6%

        學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 87 / 179

        51.7%

        按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
        學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 168 / 354

        52.68%

        學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 37 / 76

        51.97%

        學(xué)科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 73 / 140

        48.21%

        學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 83 / 179

        53.91%

        JCR(Journal Citation Reports)分區(qū),也被稱為JCR期刊分區(qū),是由湯森路透公司(現(xiàn)在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認(rèn)的期刊分區(qū)標(biāo)準(zhǔn)。JCR分區(qū)基于SCI數(shù)據(jù)庫,按照期刊的影響因子進(jìn)行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個(gè)區(qū):Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)與中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))存在不同之處。例如,兩者的分區(qū)數(shù)量不同,JCR分為四個(gè)區(qū),而中科院分區(qū)則分為176個(gè)學(xué)科,每個(gè)學(xué)科又按照影響因子高低分為四個(gè)區(qū)。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

        歷年發(fā)文數(shù)據(jù)

        年份 年發(fā)文量
        2014 160
        2015 235
        2016 119
        2017 153
        2018 130
        2019 122
        2020 200
        2021 129
        2022 101
        2023 78

        期刊互引關(guān)系

        被他刊引用情況
        期刊名稱 引用次數(shù)
        J MICROELECTROMECH S 359
        MICROMACHINES-BASEL 298
        SENSOR ACTUAT A-PHYS 287
        J MICROMECH MICROENG 219
        IEEE SENS J 206
        MICROSYST TECHNOL 193
        SENSORS-BASEL 190
        IEEE T ULTRASON FERR 93
        APPL PHYS LETT 92
        SCI REP-UK 84
        引用他刊情況
        期刊名稱 引用次數(shù)
        J MICROELECTROMECH S 359
        J MICROMECH MICROENG 190
        SENSOR ACTUAT A-PHYS 163
        APPL PHYS LETT 109
        IEEE SENS J 66
        J APPL PHYS 58
        IEEE T ULTRASON FERR 56
        LAB CHIP 52
        SENSOR ACTUAT B-CHEM 51
        NANO LETT 41
        若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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