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        Journal Of Electronic Imaging

        電子影像雜志
        國際簡稱:J ELECTRON IMAGING

        Journal Of Electronic Imaging

        SCIE

        按雜志級別劃分: 中科院1區 中科院2區 中科院3區 中科院4區

        • 4區 中科院分區
        • Q4 JCR分區
        • 316 年發文量
        • 98.10% 研究類文章占比
        • 3.76% Gold OA文章占比
        ISSN:1017-9909
        創刊時間:1992
        是否預警:否
        E-ISSN:1560-229X
        出版地區:UNITED STATES
        是否OA:未開放
        出版語言:English
        出版周期:Quarterly
        影響因子:1
        出版商:SPIE
        審稿周期: 約4.0個月
        CiteScore:1.7
        H-index:60
        出版撤稿文章占比:0.0078...
        開源占比:0.0325
        文章自引率:0.2727...

        Journal Of Electronic Imaging雜志簡介

        Journal Of Electronic Imaging是由SPIE出版商主辦的計算機科學領域的專業學術期刊,自1992年創刊以來,一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(ISSN:1017-9909,E-ISSN:1560-229X),出版周期Quarterly,其出版地區設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動計算機科學專業及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科界的教育研究與實踐經驗的交流,發表同行有創見的學術論文,提倡學術爭鳴,激發學術創新,開展國際間學術交流,為計算機科學領域的發展注入活力。

        該期刊文章自引率0.2727...,開源內容占比0.0325,出版撤稿占比0.0078...,OA被引用占比0.0554...,讀者群體主要包括計算機科學的專業人員,研究生、本科生以及計算機科學領域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學術背景和興趣。Journal Of Electronic Imaging已被國際權威學術數據庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用,有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究進展和創新發展。

        CiteScore(2024年最新版)

        • CiteScore:1.7
        • SJR:0.264
        • SNIP:0.357
        學科類別 分區 排名 百分位
        大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

        32%

        大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

        25%

        大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817

        25%

        CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估,打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據,跨越多個學科領域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標準化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標,幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。

        CiteScore分區值與影響因子值數據對比

        Journal Of Electronic Imaging中科院分區表

        中科院分區 2023年12月升級版
        大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
        計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
        中科院分區 2022年12月升級版
        大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
        計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
        中科院分區 2021年12月舊的升級版
        大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
        計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
        中科院分區 2021年12月基礎版
        大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
        工程技術 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
        中科院分區 2021年12月升級版
        大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
        計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
        中科院分區 2020年12月舊的升級版
        大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
        計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
        中科院分區表歷年分布趨勢圖

        WOS期刊JCR分區(2023-2024年最新版)

        按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
        學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

        19.2%

        學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

        15.3%

        學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

        17.2%

        按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
        學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

        18.5%

        學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

        15.28%

        學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

        13.75%

        JCR(Journal Citation Reports)分區,也被稱為JCR期刊分區,是由湯森路透公司(現在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫,按照期刊的影響因子進行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區:Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)存在不同之處。例如,兩者的分區數量不同,JCR分為四個區,而中科院分區則分為176個學科,每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

        歷年發文數據

        年份 年發文量
        2014 168
        2015 190
        2016 186
        2017 224
        2018 302
        2019 227
        2020 147
        2021 203
        2022 358
        2023 316

        期刊互引關系

        被他刊引用情況
        期刊名稱 引用次數
        IEEE ACCESS 167
        J ELECTRON IMAGING 163
        MULTIMED TOOLS APPL 118
        SENSORS-BASEL 67
        SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
        APPL SCI-BASEL 29
        IEEE T IMAGE PROCESS 29
        IET IMAGE PROCESS 29
        OPT EXPRESS 27
        NEUROCOMPUTING 26
        引用他刊情況
        期刊名稱 引用次數
        IEEE T IMAGE PROCESS 573
        IEEE T PATTERN ANAL 435
        J ELECTRON IMAGING 163
        PATTERN RECOGN 159
        INT J COMPUT VISION 153
        NEUROCOMPUTING 118
        IEEE T CIRC SYST VID 105
        ACM T GRAPHIC 74
        MULTIMED TOOLS APPL 74
        PATTERN RECOGN LETT 73
        若用戶需要出版服務,請聯系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。

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