工業控制理論與應用
國際簡稱：IET CONTROL THEORY A
Iet Control Theory And Applications雜志簡介
Iet Control Theory And Applications是由Wiley出版商主辦的計算機科學領域的專業學術期刊，自2007年創刊以來，一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號（ISSN：1751-8644，E-ISSN：1751-8652），出版周期Semi-monthly，其出版地區設在ENGLAND。該期刊的核心使命旨在推動計算機科學專業及AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS學科界的教育研究與實踐經驗的交流，發表同行有創見的學術論文，提倡學術爭鳴，激發學術創新，開展國際間學術交流，為計算機科學領域的發展注入活力。
該期刊文章自引率0.0769...，開源內容占比0.379，出版撤稿占比0，OA被引用占比0.0017...，讀者群體主要包括計算機科學的專業人員，研究生、本科生以及計算機科學領域愛好者，這些讀者群體來自全球各地，具有廣泛的學術背景和興趣。Iet Control Theory And Applications已被國際權威學術數據庫“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收錄，方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用，有助于推動AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS領域的研究進展和創新發展。
收錄信息
CiteScore（2024年最新版）
- CiteScore：5.7
- SJR：0.957
- SNIP：0.876
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Mathematics 小類：Control and Optimization | Q1 | 23 / 130 |
82% |
| 大類：Mathematics 小類：Control and Systems Engineering | Q2 | 89 / 321 |
72% |
| 大類：Mathematics 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 224 / 797 |
71% |
| 大類：Mathematics 小類：Computer Science Applications | Q2 | 270 / 817 |
67% |
| 大類：Mathematics 小類：Human-Computer Interaction | Q2 | 67 / 145 |
54% |
CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估，打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據，跨越多個學科領域，從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分，包括SNIP（源文檔標準化影響）、SJR（SCImago雜志排名）、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標，幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。
CiteScore分區值與影響因子值數據對比
Iet Control Theory And Applications中科院分區表
中科院分區 2023年12月升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 4區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區 2022年12月升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 4區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 3區 3區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區 2021年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 3區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
中科院分區 2021年12月基礎版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 3區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 3區 3區 2區 | 否 | 否 |
中科院分區 2021年12月升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 3區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
中科院分區 2020年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 3區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 2區 3區 3區 | 否 | 否 |
中科院分區表歷年分布趨勢圖
WOS期刊JCR分區（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q2 | 41 / 84 |
51.8% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 183 / 352 |
48.2% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 34 / 76 |
55.9% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q3 | 45 / 84 |
47.02% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 176 / 354 |
50.42% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q3 | 39 / 76 |
49.34% |
JCR（Journal Citation Reports）分區，也被稱為JCR期刊分區，是由湯森路透公司（現在屬于科睿唯安公司）制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫，按照期刊的影響因子進行排序，按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區（又稱分區表、分區數據）存在不同之處。例如，兩者的分區數量不同，JCR分為四個區，而中科院分區則分為176個學科，每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外，兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
歷年發文數據
| 年份 | 年發文量 |
| 2014 | 240 |
| 2015 | 301 |
| 2016 | 283 |
| 2017 | 371 |
| 2018 | 282 |
| 2019 | 333 |
| 2020 | 353 |
| 2021 | 150 |
| 2022 | 179 |
| 2023 | 186 |
期刊互引關系
| 被他刊引用情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數 |
| IET CONTROL THEORY A | 942 |
| IEEE ACCESS | 683 |
| J FRANKLIN I | 443 |
| INT J ROBUST NONLIN | 322 |
| INT J CONTROL AUTOM | 215 |
| T I MEAS CONTROL | 210 |
| INT J SYST SCI | 187 |
| NEUROCOMPUTING | 186 |
| ISA T | 173 |
| NONLINEAR DYNAM | 148 |
| 引用他刊情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數 |
| IEEE T AUTOMAT CONTR | 1445 |
| AUTOMATICA | 1309 |
| IET CONTROL THEORY A | 942 |
| IEEE T IND ELECTRON | 338 |
| J FRANKLIN I | 337 |
| INT J ROBUST NONLIN | 327 |
| SYST CONTROL LETT | 291 |
| IEEE T CYBERNETICS | 236 |
| INT J CONTROL | 217 |
| IEEE T FUZZY SYST | 210 |
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