關于信息取證和安全的 Ieee Transactions
國際簡稱：IEEE T INF FOREN SEC
Ieee Transactions On Information Forensics And Security
SCIE
按雜志級別劃分： 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)
- ISSN：1556-6013
- 創(chuàng)刊時間：2006
- 是否預警：否
- E-ISSN：1556-6021
- 出版地區(qū)：UNITED STATES
- 是否OA：未開放
- 出版語言：English
- 出版周期：Quarterly
- 影響因子：6.3
- 出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
- 審稿周期： 約6.8個月
- CiteScore：14.4
- H-index：95
- 出版國人文章占比：0.28
- 開源占比：0.134
- 文章自引率：0.0735...
Ieee Transactions On Information Forensics And Security雜志簡介
Ieee Transactions On Information Forensics And Security是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的計算機科學領域的專業(yè)學術期刊，自2006年創(chuàng)刊以來，一直以高質量的內容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號（ISSN：1556-6013，E-ISSN：1556-6021），出版周期Quarterly，其出版地區(qū)設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動計算機科學專業(yè)及COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS學科界的教育研究與實踐經驗的交流，發(fā)表同行有創(chuàng)見的學術論文，提倡學術爭鳴，激發(fā)學術創(chuàng)新，開展國際間學術交流，為計算機科學領域的發(fā)展注入活力。
該期刊文章自引率0.0735...，開源內容占比0.134，出版撤稿占比0，OA被引用占比0，讀者群體主要包括計算機科學的專業(yè)人員，研究生、本科生以及計算機科學領域愛好者，這些讀者群體來自全球各地，具有廣泛的學術背景和興趣。Ieee Transactions On Information Forensics And Security已被國際權威學術數據庫“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收錄，方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用，有助于推動COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS領域的研究進展和創(chuàng)新發(fā)展。
收錄信息
CiteScore（2024年最新版）
- CiteScore：14.4
- SJR：2.89
- SNIP：2.546
| 學科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Safety, Risk, Reliability and Quality | Q1 | 4 / 207 |
98% |
| 大類：Engineering 小類：Computer Networks and Communications | Q1 | 16 / 395 |
96% |
CiteScore: 這一創(chuàng)新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估，打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據，跨越多個學科領域，從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分，包括SNIP（源文檔標準化影響）、SJR（SCImago雜志排名）、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標，幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。
CiteScore分區(qū)值與影響因子值數據對比
Ieee Transactions On Information Forensics And Security中科院分區(qū)表
中科院分區(qū) 2023年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機：理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 1區(qū) 2區(qū) | 是 | 否 |
中科院分區(qū) 2022年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機：理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
中科院分區(qū) 2021年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機：理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
中科院分區(qū) 2021年12月基礎版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 2區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機：理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 1區(qū) 2區(qū) | 是 | 否 |
中科院分區(qū) 2021年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機：理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
中科院分區(qū) 2020年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機：理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
中科院分區(qū)表歷年分布趨勢圖
WOS期刊JCR分區(qū)（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS | SCIE | Q1 | 13 / 143 |
91.3% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 42 / 352 |
88.2% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS | SCIE | Q1 | 12 / 143 |
91.96% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 28 / 354 |
92.23% |
JCR（Journal Citation Reports）分區(qū)，也被稱為JCR期刊分區(qū)，是由湯森路透公司（現在屬于科睿唯安公司）制定的一種國際通用和公認的期刊分區(qū)標準。JCR分區(qū)基于SCI數據庫，按照期刊的影響因子進行排序，按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區(qū)：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分區(qū)的標準與中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數據）存在不同之處。例如，兩者的分區(qū)數量不同，JCR分為四個區(qū)，而中科院分區(qū)則分為176個學科，每個學科又按照影響因子高低分為四個區(qū)。此外，兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
歷年發(fā)文數據
| 年份 | 年發(fā)文量 |
| 2014 | 144 |
| 2015 | 202 |
| 2016 | 198 |
| 2017 | 223 |
| 2018 | 224 |
| 2019 | 242 |
| 2020 | 287 |
| 2021 | 387 |
| 2022 | 281 |
| 2023 | 420 |
期刊互引關系
| 被他刊引用情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數 |
| IEEE ACCESS | 1519 |
| MULTIMED TOOLS APPL | 653 |
| IEEE T INF FOREN SEC | 589 |
| IEEE INTERNET THINGS | 230 |
| INFORM SCIENCES | 175 |
| SENSORS-BASEL | 175 |
| FUTURE GENER COMP SY | 131 |
| IEEE COMMUN SURV TUT | 117 |
| J VIS COMMUN IMAGE R | 116 |
| SECUR COMMUN NETW | 106 |
| 引用他刊情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數 |
| IEEE T INF FOREN SEC | 589 |
| IEEE T INFORM THEORY | 268 |
| IEEE T PATTERN ANAL | 189 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 166 |
| IEEE T WIREL COMMUN | 152 |
| PATTERN RECOGN | 123 |
| IEEE T COMMUN | 94 |
| IEEE T VEH TECHNOL | 92 |
| IEEE J SEL AREA COMM | 80 |
| IEEE SIGNAL PROC LET | 66 |
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